intelliwave中文版能夠很好地進行所需的各項自動化質(zhì)量檢測，為你帶來相位測量服務，支持干涉條紋的描繪功能，能夠很好地實現(xiàn)光程差的計算，幫助用戶們應用到圖像加工等眾多行業(yè)帶來最佳的使用體驗！

intelliwave 漢化版介紹

Intelliwave是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括鏡子、透鏡、半導體芯片、和其它許多反射或不反射的表面。為了推斷鏡片表面外形，Intelliwave需要制造一個光學相位差來獲得干涉圖形，因為干涉條紋圖是干涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成，藉著干涉圖形的處理，主要在于鑒定待測光學儀器的表面外型。Intelliwave 結合了攫取、輸入、分析、以及許多實際干涉圖形文檔等等特性，更提供了強大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數(shù)據(jù)信息的優(yōu)點。

軟件特色

分析特性

Intelliwave提供一套完整的分析工具，包括統(tǒng)計信息、像差、繞射分析、圖象加工、以及 幾何圖象轉(zhuǎn)換。 它支持了多樣化干涉圖形的處理技術，也可把干涉圖轉(zhuǎn)換成光學相位差(OPD)或表面圖（surface map），Intelliwave還具有處理實時信息及對有雜訊的信息作有效處理。

功能介紹

使用范圍

光學統(tǒng)的動態(tài)控制

全像攝影

極溫度（ Extreme Temperature）的應用

天文上的應用 : 天文鏡片、天文望遠鏡

對于非球狀光學結構有高分辨率

在半導體上的應用

高功率激光的外型和反射特性的量測

光學量測